Tudományos publikációk kimutatták, hogy a fénytöréses mikroszkópia – és különösen a holografikus mikroszkópia – hatalmas lehetőségeket rejt magában a részecskék részletes elemzésére. Csoportunk több holografikus rendszert hozott létre e jelenségek vizsgálatára, és elvégezte az első szisztematikus méréseket.
Célunk a fény hullámhosszához közeli és annál kisebb részecskék képalkotása. Ehhez különböző beállításokban innovatív módszereket alkalmazunk. A vizsgált részecskék kis mérete, a felületen jelen lévő idegen részecskék, valamint a lézerfény által okozott szemcsés zaj miatt jel erősítő technikákat fejlesztünk a mérések pontosságának növelése érdekében.
A mellékelt kép három különböző hullámhosszúságú polisztirol részecske nyers holografikus képét mutatja, amelyeket különböző vetítési távolságokból rögzítettek. A zaj jelenlétében a finom jelek megkülönböztetésére összpontosítunk.